概述西格玛光机上干涉TS-140  -  3

干涉追溯到十七世纪的基本原则。干涉使用电磁波的特性,以收集有关样品的信息。干涉仪已被用来测量来自外太空的身体辐射天文研究的一部分。在纳米技术研究的上下文中,光干涉仪使用光收集关于表面和小样本的属性的信息。光干涉仪产生两个光束,一个被反射离开一个参考表面,另一个被反射离开样品。两个光波之间的干涉进行测量,以产生在样品的表面特性的信息。

白光干涉仪和激光干涉仪允许用户在非常高的精度等级的收集有关的材料件的表面特性的详细信息。干涉仪可以指示平坦度,粗糙度和度表面的曲率。干涉被限定在光学(非接触)分析器用于确定薄膜的厚度和表面均匀性。光廓是非常宝贵的质量保证和故障分析工具。干涉仪是流行,由于其易用性,通用性,并且成本相对较低。


锚典型应用


锚生态环境问题

干涉仪的机械性能要求的光或激光源,反射镜,阶段和检测器保持所有的空间均匀性,以确保结果的准确性和可重复性。固有振动建筑物有时可足以挫折精确的测量。干涉仪通常在恶劣的环境中,诸如半导体晶圆厂或生产设施中使用。在这些情况下,高性能隔振系统是必须的。

干涉仪也都是环境振动源,如道路交通,脚步灵敏,和人说话。这种情况并不少见,以能够观看条纹也会跟着移动,看到数据的变化,由于只是人们在实验室中移动。在街道和步行交通的区域,建议采用补充隔振系统,以确保测量的重复性和维持吞吐量。

干涉仪是低频振动众所周知的敏感。因此,当一个人在建筑物的上部楼层使用最好是采用118bet网娱乐